Bilde 1 av 1
DF-749 gir målinger av spor- og ultralave nivåer av fuktighetsforurensning i ulike bakgrunnsgasser, inkludert nitrogen, hydrogen, helium, argon og oksygen. Den er ideell for kvalitetskontroll av UHP-gasser (ultrahøyrent) som brukes i produksjon av LCD- og LED-skjermer. DF-749s kompakte utforming gjør den lett å transportere, enten på tralle eller som mobil enhet. Et robust maskinvare- og programvaredesign eliminerer praktisk talt tørketidene som ofte oppstår ved kontroll av UHP-gasser.
Tunbar diodelaser (TDL)-teknologi for sporingsnivåer gir stabile og nøyaktige målinger med minimal kontakt mellom fuktighet og optiske komponenter
Bredt deteksjonsområde: 0–20 ppm
Fleksible konfigurasjonsalternativer: start via frontpanel eller digital tilkobling
Tilleggsinformasjon
-
0-10V, 0-1V, 0-2V, 0-5V, 4-20 mA, Display, RS232, RS485, Tunable Diode Laser
-
H2O (Moisture)
