Bilde 1 av 1
DF-750 er spesielt utviklet for måling av spor- og ultralave nivåer i ulike ultrahøyrene gasser, og er førstevalget for fuktighetsanalyse i halvlederindustrien. Optimalisert for bruk i 300 mm halvlederfabrikker, måler DF-750 fuktighet som forurensning i elektronikkgradert nitrogen, hydrogen, helium, argon og oksygen.
Tunbar diodelaser (TDL)-teknologi på sporingsnivå gir høy stabilitet og minimal kontakt mellom fuktighet og optiske komponenter
Bredt deteksjonsområde: 0–20 ppm
Lagrings- og gjenkallingsfunksjon for kalibrering, systemfeil og måledata – gjør det enkelt å arkivere driftslogg
Kan betjenes via frontpanel eller digitale kommunikasjonsalternativer
Tilleggsinformasjon
-
0-10V, 0-1V, 0-2V, 0-5V, 4-20 mA, Display, Tunable Diode Laser
-
H2O (Moisture)
